SN74BCT8245ANTG4 - IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

製造業者識別番号

内部部品番号

メーカー

簡単な説明

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

RoHSステータス

鉛フリー/ RoHS準拠

納期

1〜2日

利用可能な数量

52930 Pieces

参考価格

~~USD 0~~

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品質保証 : 365日間の保証

在庫リソース : フランチャイズ販売代理店/メーカー直販

原産国 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

品番 : SN74BCT8245ANTG4

メーカー : Texas Instruments

説明文 : IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

シリーズ : 74BCT

部品ステータス : Obsolete

論理タイプ : Scan Test Device with Bus Transceivers

供給電圧 : 4.5V ~ 5.5V

ビット数 : 8

動作温度 : 0°C ~ 70°C

取付タイプ : Through Hole

パッケージ/ケース : 24-DIP (0.300", 7.62mm)

サプライヤーデバイスパッケージ : 24-PDIP

重量 : -

調子 : 新しい、オリジナル

データシート : SN74BCT8245ANTG4.pdf