SN74BCT8245ANTG4 データシート
仕様 SN74BCT8245ANTG4
品番 : SN74BCT8245ANTG4
メーカー : Texas Instruments
説明文 : IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
シリーズ : 74BCT
部品ステータス : Obsolete
論理タイプ : Scan Test Device with Bus Transceivers
供給電圧 : 4.5V ~ 5.5V
ビット数 : 8
動作温度 : 0°C ~ 70°C
取付タイプ : Through Hole
パッケージ/ケース : 24-DIP (0.300", 7.62mm)
サプライヤーデバイスパッケージ : 24-PDIP
重量 : -
調子 : 新しい、オリジナル
品質保証 : 365日間の保証
在庫リソース : フランチャイズ販売代理店/メーカー直販
原産国 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
製造業者識別番号
内部部品番号
メーカー
簡単な説明
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
RoHSステータス
鉛フリー/ RoHS準拠
納期
1〜2日
利用可能な数量
52930 個
参考価格
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| Xilinx Inc. | IC CPLD 384MC 7.1NS 256FBGA | ||
| Intel | IC CPLD 128MC 7.5NS 144TQFP | ||
| Xilinx Inc. | IC CPLD 512MC 9NS 208QFP |