SN74BCT8374ADWR - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

製造業者識別番号

内部部品番号

メーカー

簡単な説明

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

RoHSステータス

鉛フリー/ RoHS準拠

納期

1〜2日

利用可能な数量

39072 Pieces

参考価格

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品質保証 : 365日間の保証

在庫リソース : フランチャイズ販売代理店/メーカー直販

原産国 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

品番 : SN74BCT8374ADWR

メーカー : Texas Instruments

説明文 : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

シリーズ : 74BCT

部品ステータス : Obsolete

論理タイプ : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops

供給電圧 : 4.5V ~ 5.5V

ビット数 : 8

動作温度 : 0°C ~ 70°C

取付タイプ : Surface Mount

パッケージ/ケース : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

サプライヤーデバイスパッケージ : 24-SOIC

重量 : -

調子 : 新しい、オリジナル

データシート : SN74BCT8374ADWR.pdf