SN74LVTH18646APMG4 - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

製造業者識別番号

内部部品番号

メーカー

簡単な説明

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

RoHSステータス

鉛フリー/ RoHS準拠

納期

1〜2日

利用可能な数量

45084 Pieces

参考価格

~~USD 8.302236~~

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品質保証 : 365日間の保証

在庫リソース : フランチャイズ販売代理店/メーカー直販

原産国 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

品番 : SN74LVTH18646APMG4

メーカー : Texas Instruments

説明文 : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

シリーズ : 74LVTH

部品ステータス : Active

論理タイプ : ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers

供給電圧 : 2.7V ~ 3.6V

ビット数 : 18

動作温度 : -40°C ~ 85°C

取付タイプ : Surface Mount

パッケージ/ケース : 64-LQFP

サプライヤーデバイスパッケージ : 64-LQFP (10x10)

重量 : -

調子 : 新しい、オリジナル

データシート : SN74LVTH18646APMG4.pdf