8V18646AIPMREP - IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP

製造業者識別番号

内部部品番号

メーカー

簡単な説明

IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP

RoHSステータス

鉛フリー/ RoHS準拠

納期

1〜2日

利用可能な数量

52325 Pieces

参考価格

~~USD 0~~

私たちの価格

-（お得な料金については、sales @ axsemi.comまでお問い合わせください）

AX Semiconductorは8V18646AIPMREPの在庫を売りに出している。 1〜2日で発送可能です。 8V18646AIPMREPのよりお得な価格については、お問い合わせください。メール：[email protected]

配送オプションと配送時間:: DHL: 2-3 days.; FEDEX: 2-3 days.; UPS: 2-4 days.; TNT: 3-5 days.; EMS: 5-8 days.; Normal Post: 10-15 days.

支払いオプション:: Paypal (Credit Card); Bank Transfer (Wire Transfer); Western Union; MoneyGram

品質保証 : 365日間の保証

在庫リソース : フランチャイズ販売代理店/メーカー直販

原産国 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

品番 : 8V18646AIPMREP

メーカー : Texas Instruments

説明文 : IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP

シリーズ : SCOPE™, Widebus™

部品ステータス : Obsolete

用途 : Circuit Board Testing

インタフェース : 4-Wire Test Access Port (TAP)

電圧-供給 : 2.7V ~ 3.6V

パッケージ/ケース : 64-LQFP

サプライヤーデバイスパッケージ : 64-LQFP (10x10)

取付タイプ : Surface Mount

重量 : -

調子 : 新しい、オリジナル

データシート : 8V18646AIPMREP.pdf