SN74BCT8373ADWRG4 データシート
仕様 SN74BCT8373ADWRG4
品番 : SN74BCT8373ADWRG4
メーカー : Texas Instruments
説明文 : IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
シリーズ : 74BCT
部品ステータス : Obsolete
論理タイプ : Scan Test Device with D-Type Latches
供給電圧 : 4.5V ~ 5.5V
ビット数 : 8
動作温度 : 0°C ~ 70°C
取付タイプ : Surface Mount
パッケージ/ケース : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ : 24-SOIC
重量 : -
調子 : 新しい、オリジナル
品質保証 : 365日間の保証
在庫リソース : フランチャイズ販売代理店/メーカー直販
原産国 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
製造業者識別番号
内部部品番号
メーカー
簡単な説明
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
RoHSステータス
鉛フリー/ RoHS準拠
納期
1〜2日
利用可能な数量
46746 個
参考価格
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