仕様 SN74ABTH18652APM

品番 : SN74ABTH18652APM
メーカー : Texas Instruments
説明文 : IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
シリーズ : 74ABTH
部品ステータス : Active
論理タイプ : Scan Test Device With Transceivers And Registers
供給電圧 : 4.5V ~ 5.5V
ビット数 : 18
動作温度 : -40°C ~ 85°C
取付タイプ : Surface Mount
パッケージ/ケース : 64-LQFP
サプライヤーデバイスパッケージ : 64-LQFP (10x10)
重量 : -
調子 : 新しい、オリジナル
品質保証 : 365日間の保証
在庫リソース : フランチャイズ販売代理店/メーカー直販
原産国 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
製造業者識別番号
内部部品番号
メーカー
簡単な説明
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
RoHSステータス
鉛フリー/ RoHS準拠
納期
1〜2日
利用可能な数量
40565 個
参考価格
USD 0
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